Espaço: Caracterização - Equipamentos

O microscópio AFM Naio abrange uma variedade de técnicas de caracterização de superfícies, incluindo a microscopia de força atômica (AFM - Atomic Force Microscopy) e a microscopia de força magnética (MFM - Magnetic Force Microscopy). Opera nos modos: Static Force, Dynamic Force (Tapping Mode) e Phase Imaging.

Resolução: 1,0 nm no plano e 0,2 nm em altura.

Dimensões máximas de varredura: 70 microns x 70 microns no plano e 14 microns em altura.

Dimensões máximas da amostra: 12 mm x 12 mm no plano e 3,5 mm em altura.